技術文章|全自動集成硅光子晶圓測試系統(tǒng)發(fā)表時間:2023-12-20 09:29作者:Golam Bappi ,Dan Rishavy來源:FormFactor 全自動集成硅光子晶圓測試系統(tǒng)(FormFactor CM300xi - SiPh探針臺) -支持用于構建TeraPHY? chiplet 的各種組件的全自動晶圓光學+電學表征測量, -可重復光纖對準(~0.1 dB), -電動定位器可顯著提高測試吞吐量, -支持在高溫 (高達150°C) 下進行測試, –無源、直流、直流光電、射頻和射頻光電測量的任何組合都可以在全晶圓上運行,無需重新配置和校準測試裝置。 CM300xi-SIPH自主型硅光子器件測量半自動化 / 全自動化測試系統(tǒng)產(chǎn)品鏈接:http://m.ogim.org/h-pd-103.html Ayar Labs 是一家將硅光子學運用于片間通訊的芯片公司,F(xiàn)ormFactor 的CM300xi SiPh硅光子探針臺,可以使我們能夠表征各種電子/光子結構,以獲得高可信度的統(tǒng)計分布。 下文由Golam Bappi (Ayar Labs)和Dan Rishavy (FormFactor)共同完成。 Current Activities and Future Work 內容版權歸原作者所有,此處僅作分享學習使用,如有侵權,請聯(lián)系本站刪除 |